%0 Journal Article %T طیف‌سنجی جذب پرتو X و بررسی ساختاری با استفاده از این روش %J Chemistry Researches %I انجمن شیمی ایران %Z 2717-1442 %A موسی زاده, یونس %A زند, زهرا %A نجف پور, محمد مهدی %D 2021 %\ 08/23/2021 %V 4 %N 1 %P 81-89 %! طیف‌سنجی جذب پرتو X و بررسی ساختاری با استفاده از این روش %K پرتو ایکس %K تعیین ساختار %K طیف‌سنجی ریز ساختار جذب پرتوX %K کمپلکس منگنز %R 10.22036/cr.2021.264560.1130 %X طیف سنجی ریز ساختار جذب پرتوی (XAFS: X-Ray Absorption Fine Structure) به جزئیاتی اطلاق می‌شود که بیان کننده چگونگی جذب پرتوی-X در یک اتم مورد نظر در لایه‌های الکترونی نزدیک و دور به هسته در انرژی‌های مربوطه می‌باشد. به طور خاص، XAFS مدلی از جذب اشعه ایکس یک اتم به دلیل حالتهای شیمیایی و فیزیکی آن اتم است. طیفهای XAFS به طور کلی به عدد اکسایش، شیمی کئوردیناسیون، فواصل پیوندی، عدد کئوردیناسیون و نوع گروه‌های مجاور اتم چذب کننده بستگی دارند. به دلیل این وابستگی، XAFS روشی مفید و ساده را برای تعیین حالات شیمیایی و ساختاری در ترکیبات مشخص فراهم می‌کند. از XAFS می توان در انواع سیستم ها و محیطهای فیزیکی مختلف استفاده کرد. XAFS به طور معمول در طیف وسیعی از زمینه های علمی، از جمله زیست شناسی، علوم زیست محیطی، تحقیقات بروی کاتالیزورها و علوم مواد استفاده می‌شود. در این مطالعه ساختار چند ترکیب معدنی با طیف سنجی پرتوی اشعه ایکس بررسی می شود. %U http://www.chemistryresearches.ir/article_144314_fe38699bfb1dfcfb057d2bfd038c70b5.pdf